Пособие посвящено описанию теоретических основ и методических подходов к исследованию систем пониженной размерности посредством инфракрасной спектроскопии. Для студентов и аспирантов, специализирующихся в области физики полупроводников, оптики твердого тела и оптических методов исследования новых материалов, а также для дополнительного обучения в рамках физико-химических, материаловедческих специальностей и специализаций, связанных с оптическими методами анализа низкоразмерных структур.
| Вес: | 475 |
| Ширина упаковки: | 140 |
| Высота упаковки: | 20 |
| Глубина упаковки: | 210 |
Штрих-код:
9785811423781
Frame $60% в наличии