Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом

Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом

История цены История цены
 
270 Р
30457502
В наличии
03/05/2016
 
Рассмотрены основные закономерности явления интерференции света и интерференции света в тонких пленках. Изложена методика наблюдения колец Ньютона и применения интерференционного метода для определения геометрических параметров поверхностей прозрачных тел, таких, как радиус кривизны поверхностей выпуклой и вогнутой линз, размеры воздушной полости в твердой среде. Для студентов второго курса всех специальностей МГТУ им. Н.Э.Баумана.
Frame $60% в наличии