С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Предлагаемое учебное пособие посвящено дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость настоящего издания обусловлена прежде всего тем, что учебные пособия по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор данной книги — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.
| Вес: | 339 |
| Ширина упаковки: | 1 |
| Высота упаковки: | 1 |
| Глубина упаковки: | 1 |
| Автор: | Эрнест Суворов |
| Тип издания: | Отдельное издание |
| Тип обложки: | Твердый переплет |
| Произведение: | Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов. Учебное пособие |
Штрих-код:
9785534060119
Frame $60% в наличии