Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ. Перевод на русский язык второго оригинального издания книги МЕТОД ДИФРАКЦИИ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области. Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.
| Вес: | 1160 |
| Ширина упаковки: | 180 |
| Высота упаковки: | 30 |
| Глубина упаковки: | 250 |
| Тип обложки (Переплет): | Твердый переплет |
| Тираж: | 1500 |
| Тип издания: | Отдельное издание |
| Редактор: | А. Шварц,М. Кумар,Б. Адамс,Д. Филд |
| Переводчик: | С. Иванов |
Frame $60% в наличии