Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения

История цены История цены
 
1 452 Р
135841649
В наличии
09/01/2021
 
Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не толь-ко исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.

Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.
Вес: 895
Ширина упаковки: 180
Высота упаковки: 30
Глубина упаковки: 245
crossborder: false
Издательство: Бином. Лаборатория знаний
Мелованная бумага: false
Цветные иллюстрации: false
Размер упаковки (Длина х Ширина х Высота), см: 24.5 x 18 x 3
Название: Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения
Тип издания: Отдельное издание
Признак 18+: false
Основной жанр книги: Научная литература
Направления нехудожественной литературы: Физические науки. Астрономия
Тип книги: Печатная книга
Тип обложки: Твердый переплет
Тип носителя: Печатная книга
Эпоха публикации: Современные издания
ebsmstock: false
Frame $60% в наличии