Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не толь-ко исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.
Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.
Вес: |
895 |
Ширина упаковки: |
180 |
Высота упаковки: |
30 |
Глубина упаковки: |
245 |
crossborder: |
false |
Издательство: |
Бином. Лаборатория знаний |
Мелованная бумага: |
false |
Цветные иллюстрации: |
false |
Размер упаковки (Длина х Ширина х Высота), см: |
24.5 x 18 x 3 |
Название: |
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения |
Тип издания: |
Отдельное издание |
Признак 18+: |
false |
Основной жанр книги: |
Научная литература |
Направления нехудожественной литературы: |
Физические науки. Астрономия |
Тип книги: |
Печатная книга |
Тип обложки: |
Твердый переплет |
Тип носителя: |
Печатная книга |
Эпоха публикации: |
Современные издания |
ebsmstock: |
false |